Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Elektronisches Format: PDF

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-41536-5 / 978-3030415365 / 9783030415365

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 20.03.2020

Seiten: 237

Autor(en): Nuno Cavaco Gomes Horta, António Manuel Lourenço Canelas, Jorge Manuel Correia Guilherme