Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Sprache(n): Englisch

ISBN: 978-3-030-41535-8 / 978-3030415358 / 9783030415358

Verlag: Springer International Publishing

Erscheinungsdatum: 21.03.2020

Seiten: 237

Auflage: 1

Autor(en): Nuno Cavaco Gomes Horta, António Manuel Lourenço Canelas, Jorge Manuel Correia Guilherme