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Scanning Tunneling Microscopy II
Further Applications and Related Scanning Techniques
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NEXAFS Spectroscopy
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Electronic Properties of Semiconductor Interfaces
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Surface Phonons
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Islands, Mounds and Atoms
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Auger Spectroscopy and Electronic Structure
Proceedings of the First International Workshop, Giardini Naxos-Taormina, Messina, Italy, September 10–14, 1988
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Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science
A User-Oriented Guide
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This book presents the basics of Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science in logical order from sample preparation and instrument setup through data acquisition to data evaluation. Offers guidance on problem-solving and worked examples.
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Scanning Tunneling Microscopy I
General Principles and Applications to Clean and Adsorbate-Covered Surfaces
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Solvay Conference on Surface Science
Invited Lectures and Discussions University of Texas, Austin, Texas, December 14–18, 1987
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Surface Analysis Methods in Materials Science
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