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Gettering Defects in Semiconductors
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Ferroelectric Memories
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High-Frequency Bipolar Transistors
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Silicon Optoelectronic Integrated Circuits
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Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
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Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.
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Integrated CMOS Circuits for Optical Communications
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Continuous-Time Sigma-Delta A/D Conversion
Fundamentals, Performance Limits and Robust Implementations
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High Dielectric Constant Materials
VLSI MOSFET Applications
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Microcontrollers in Practice
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Noise in Semiconductor Devices
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