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Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization
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Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
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Optical Characterization of Thin Solid Films
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Photoelectron Spectroscopy
Bulk and Surface Electronic Structures
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Confocal Raman Microscopy
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Defects at Oxide Surfaces
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Surface Plasmon Resonance Sensors
A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage
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Kinetics of Evaporation
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Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Instrumentation and Applications
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Ion Beam Modification of Solids
Ion-Solid Interaction and Radiation Damage
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