Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Ihre Suche ergab 12 Treffer.


CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Netherland, 194 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 01.06.2008

160,49 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Models in Hardware Testing

Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Netherland, 257 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 12.11.2009

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

New Methods of Concurrent Checking

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem


Verlag: Springer Netherland, 182 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 26.04.2008

96,29 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer Netherland, 452 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 03.06.2007

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

New Methods of Concurrent Checking

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 182 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.10.2010

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 452 Seiten

Erscheinungsdatum: 06.11.2006

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Models in Hardware Testing

Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 257 Seiten

Erscheinungsdatum: 01.03.2012

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Oscillation-Based Test in Mixed-Signal Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 452 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.11.2010

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

New Methods of Concurrent Checking

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 182 Seiten

Erscheinungsdatum: 09.05.2008

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2008

171,19 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel