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CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Process-Aware SRAM Design and Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 194 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.10.2010

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Models in Hardware Testing

Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer Netherland, Auflage 1, 257 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2009

106,99 € inkl. MwSt.
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