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Three-Dimensional Integrated Circuit Design
EDA, Design and Microarchitectures
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Nanoscale Memory Repair
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Written from years of experience with developing memories and low-voltage CMOS circuits, Nanoscale Memory Repair describes yield and reliability issues in terms of mathematics and engineering. Readers will find a detailed explanation of the various yield models and calculations.
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Secure Integrated Circuits and Systems
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Adaptive Techniques for Dynamic Processor Optimization
Theory and Practice
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Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design
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Sub-threshold Design for Ultra Low-Power Systems
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