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Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
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The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications
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Multi-Chip Module Test Strategies
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