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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
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Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450
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Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
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A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
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Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation
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High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
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Embedded Processor-Based Self-Test
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Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies
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