Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Ihre Suche ergab 103 Treffer.


Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 156 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 388 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 30.03.2006

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Elements of STIL

Principles and Applications of IEEE Std. 1450

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 291 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 232 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

A Designer’s Guide to Built-In Self-Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 320 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 27.12.2005

213,99 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 229 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

181,89 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 241 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 15.12.2005

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 250 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 29.12.2005

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Embedded Processor-Based Self-Test

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 217 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Advances in Electronic Testing

Challenges and Methodologies

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 412 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 22.01.2006

149,79 € inkl. MwSt.
Recommended Retail Price
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel