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Data Mining and Diagnosing IC Fails

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 250 Seiten

Erscheinungsdatum: 08.12.2010

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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 690 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.11.2000

139,09 € inkl. MwSt.
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 156 Seiten

Erscheinungsdatum: 10.12.2010

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Advances in Electronic Testing

Challenges and Methodologies

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 412 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.12.2014

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Advances in Electronic Testing

Challenges and Methodologies

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 412 Seiten

Erscheinungsdatum: 23.01.2006

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Emerging Nanotechnologies

Test, Defect Tolerance, and Reliability

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)


Verlag: Springer US, Auflage 1, 408 Seiten

Erscheinungsdatum: 10.12.2007

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A Designer’s Guide to Built-In Self-Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 320 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.05.2002

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Boundary-Scan Interconnect Diagnosis

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 168 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2010

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Reasoning in Boolean Networks

Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 230 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1997

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Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 241 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2010

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