Noch Fragen? 0800 / 33 82 637

Erweiterte Suche

Ihre Suche ergab 103 Treffer.


Introduction to IDDQ Testing

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 323 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1997

106,99 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Digital Timing Measurements

From Scopes and Probes to Timing and Jitter

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 240 Seiten

Erscheinungsdatum: 11.08.2006

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel

Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 191 Seiten

Erscheinungsdatum: 12.10.2012

160,49 € inkl. MwSt.
kostenloser Versand

lieferbar - Lieferzeit 10-15 Werktage

zum Artikel