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Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability
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High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test
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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
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Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
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Testing Static Random Access Memories
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
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Digital Timing Measurements
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
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Verification by Error Modeling
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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization
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