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Multi-Chip Module Test Strategies

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 167 Seiten

Erscheinungsdatum: 04.10.2012

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Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 232 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.1998

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 239 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.1999

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The Core Test Wrapper Handbook

Rationale and Application of IEEE Std. 1500™

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 276 Seiten

Erscheinungsdatum: 20.07.2006

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SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 200 Seiten

Erscheinungsdatum: 12.12.2011

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Formal Equivalence Checking and Design Debugging

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 229 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.06.1998

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Reasoning in Boolean Networks

Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 230 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2010

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Fault Injection Techniques and Tools for Embedded Systems Reliability Evaluation

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 241 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.10.2003

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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 184 Seiten

Erscheinungsdatum: 14.06.2006

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Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 184 Seiten

Erscheinungsdatum: 29.11.2010

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