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Embedded Processor-Based Self-Test

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 217 Seiten

Erscheinungsdatum: 14.12.2011

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Introduction to IDDQ Testing

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 323 Seiten

Erscheinungsdatum: 12.10.2012

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On-Line Testing for VLSI

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 160 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.04.1998

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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 232 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.11.2012

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Multi-Chip Module Test Strategies

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 167 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.05.1997

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High Performance Memory Testing

Design Principles, Fault Modeling and Self-Test

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 250 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.2002

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Data Mining and Diagnosing IC Fails

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 250 Seiten

Erscheinungsdatum: 21.06.2005

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SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 200 Seiten

Erscheinungsdatum: 30.09.2002

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Verification by Error Modeling

Using Testing Techniques in Hardware Verification

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 216 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.12.2010

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Elements of STIL

Principles and Applications of IEEE Std. 1450

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 291 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.10.2003

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