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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design
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The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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Boundary-Scan Interconnect Diagnosis
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Soft Errors in Modern Electronic Systems
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Testing Static Random Access Memories
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On-Line Testing for VLSI
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