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SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 200 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 17.04.2013

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Data Mining and Diagnosing IC Fails

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 250 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 03.10.2006

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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 232 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

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Introduction to IDDQ Testing

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 323 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 06.12.2012

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On-Line Testing for VLSI

Produktform: E-Buch Text Elektronisches Buch in proprietärem

Verlag: Springer US, 160 Seiten

Elektronisches Format: PDF

Erscheinungsdatum: 09.03.2013

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Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 388 Seiten

Erscheinungsdatum: 07.11.2005

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 239 Seiten

Erscheinungsdatum: 26.04.2013

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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 178 Seiten

Erscheinungsdatum: 28.02.2003

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Efficient Branch and Bound Search with Application to Computer-Aided Design

Produktform: Buch / Einband - fest (Hardcover)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 146 Seiten

Erscheinungsdatum: 31.12.1995

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Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits

Produktform: Buch / Einband - flex.(Paperback)

Verlag: Springer US, Auflage 1, 182 Seiten

Erscheinungsdatum: 05.01.2011

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