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Soft Errors in Modern Electronic Systems
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications
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Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
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A Designer’s Guide to Built-In Self-Test
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Analog and Mixed-Signal Boundary-Scan
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
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Embedded Processor-Based Self-Test
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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss
Simulation and Applications
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Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard
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Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
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